[자연과학] [방사선] X -ray Photoelectron Spectroscopy [XPS]재료 분석법
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작성일 23-07-27 08:06
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A: 원자나 분자, A+*: 여기된 이온, hv: X-선 광자의 characteristic(특성)에너지, e-: 광전자라고 할 때,
A + hv → A+* + e-
이때 방출된 광전자의 운동에너지는 分析(분석)기와 검출기에서 정확히 측정(測定) 된다 방출된 광전자의 운동에너지 Ek는 X-선 광자의 characteristic(특성)에너지 hv에서 core 준위의 결합에너지 Eb와 분광계의 일함수 Ф를 뺀 값이 된다
Ek = hv - Eb - Ф
조사된 광전자의 에너지(hv)는 알 수 있으며, Ek와 Ф이 측정(測定) 가능함으로써, 원자 내에서의 전자의 결합에너지(Eb)가 계산된다 이 결합에너지는 원자의 고유한 값(예: C1s전자 284eV, O1전자 532eV, Si 2p3/2 99eV 등) 을 갖기 때문에 표면에서 방출되는 광전자의 스펙트럼을 관측함으로써 표면의 조성…(생략(省略))
3. 分析(분석) 방법과 分析(분석) 장비
ㄹ. 수직분포 分析(분석) (Depth profiling)
ㅁ. 절연물질의 分析(분석)
ㅂ. 유기화합물의 分析(분석)
순서
다.
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[자연과학] [방사선] X -ray Photoelectron Spectroscopy [XPS]재료 분석법
X -ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)